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日本日立HITACHI日立光-电联用显微镜法（CLEM）系统MirrorCLEM，贵阳强势供应
日期：2025-04-18 07:21
浏览次数：846
摘要：日本日立HITACHI日立光-电联用显微镜法（CLEM）系统MirrorCLEM，贵阳强势供应
日本日立HITACHI日立光-电联用显微镜法（CLEM）系统MirrorCLEM，贵阳强势供应
MirrorCLEM是搭配FE-SEM，迅速并准确支援CLEM解析的系统。
使用此系统，在光学显微镜下从低倍率到高倍率清晰观察树脂切片目标结构后，让观察位置与FE-SEM样品台坐标信息同步，通过控制马达台在FE-SEM上可观察同一位置。
此外，还可实时显示光学显微镜和FE-SEM的叠加图像。
系统配置
